随着工藝的發展及設計複雜度的增加,芯片集成度越來越高、規模也越來越大,有的大型芯片面積達到了400平方毫米以上,晶體管數目多達百億門,芯片的版圖數據也随之劇增。版圖數據量的增加對版圖工具的讀取性能、版圖數據集成、查詢以及操作等都提出了更高的要求。在讀取和分析先進工藝超大規模版圖數據時,常規的版圖查看和編輯工具已很難支撐。如何更高效地完成超大規模版圖數據的讀入、導出、檢視、比較、分析和集成,是所有集成電路設計與制造廠商必須要面對的問題。
Empyrean Skipper®為用戶提供了高效的一站式版圖集成與分析解決方案,支持多種版圖數據格式如GDS,GDS.gz,OASIS,LEF/DEF, MEBES等。通過基于索引的版圖數據并行讀取、版圖數據内存鏡像和圖形索引等技術,實現了超大規模版圖的快速處理。
Empyrean Skipper®針對海量版圖首次讀取、二次讀取和多人同時讀取的不同應用場景,提供了不同的版圖數據讀取模式,顯著提升了版圖數據讀取的性能;版圖讀入後,用戶可在工具内對版圖進行查看和信息查詢。Empyrean Skipper®還支持了快速版圖集成、批量版圖數據處理、并行線網追蹤、點到點電阻分析等功能,為高效的分析和處理超大規模版圖數據提供了有力支撐,獲得了用戶的廣泛認可。
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